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知识产权 基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构

  • 挂牌价格(人民币元)

    面议

  • 挂牌截至日期

    长期有效

  • 标的所属行业

    高新技术

  • 标的所在地区

    桂林

已结束
  • 项目编号: BBWWBH16-456
  • 挂牌起始日期: 详见公告内容
  • 挂牌期满日期: 详见公告内容
联系人: 详见竞买公告
联系电话: 详见竞买公告
联系地址: 广西南宁市竹溪大道43号荣桂商厦B座三楼
竞买公告
项目名称 基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构 项  目
编  号
BBWWBH16-456
知识产权名称 基于IEEE 1500 的嵌入式SRAM存储测试结构 所属区域 桂林
知识产权类型 实用新型 行业领域 电学
知识产权持有人
/挂牌申请人
 桂林电子科技大学
知识产权证书号
/登记号
ZL 201120248833.1
知识产权正常情况下的有效期限 2011年07月15日- 2021年07月14日
知识产权权属 独占
许可情况 未实施许可
项目阶段 试生产阶段
交易/合作方式 许可、转让或技术入股
合作价格 面议
知识产权及合作
简 介
本实用新型公开了一种基于IEEE1500的嵌入式SRAM存储器测试结构,该测试结构由嵌入式SRAM的测试壳封装与SRAM测试控制器两部分构成,测试封装壳解决了嵌入式SRAM的测试访问、测试隔离和测试的控制问题,SRAM测试控制器根据测试算法生成测试激励数据、控制封装壳Wrapper、进行响应分析、输出测试结果。应用该测试结构及测试方法,能够检测出嵌入式SRAM存储器存在的故障,有利于嵌入式SRAM存储器的测试复用,可以有效的提高SoC的集成效率。
联系方式 0771-5880208 联系人 张先生
联系地址 广西南宁市竹溪大道43号荣桂商厦B座3层

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